【每週快訊】空間電磁場可視化

使得EMI Debug對策更高效化!!

針對電子設備開發過程中不可或缺的EMC測試，本系統具有進行前期預測試、確定噪音源位置、對策前後效果對比的功能。

通過對相機所拍攝圖像中的色彩進行判定，以此來檢測電磁場探棒的位置^*，然後將所測得的信號進行即時頻率解析，同時將被測的實物圖和即時電磁場強度疊加在一起以熱圖的形式展現出來。
^* ：根據日本國立大學法人 金澤大學 專利 2007-223275以及 株式會社雜訊研究所 專利5205547的位置探測方法。

主要特點

• 不論大小各種尺寸都能夠進行測試(可使用各種電磁場探棒)。
• 標準對應各式的頻譜分析儀。
• 密度顯示功能使解析的能力更加廣泛，可簡單確認雜訊發生的頻率。
• 讓雜訊成因的分析更加簡便快速。
• 新追加了波形的同時顯示功能。
• 讓數據對比更加直觀簡便。
• 優化了注譯功能。
• 新追加了測試文件的一覽顯示功能。
• 快速簡便的圖像辦視設定。
• 輕鬆的將先前的測試條件套用在新測試上。
• 鏡頭畫面復位功能。
• 指定坐標輸出功能。
• 關於電波暗室中測試後的問題點的標定。

若有任何產品問題，都歡迎隨時與我們公司連絡!!