【每週快訊】Magnetic Active Compensation System
Magnetic Active Compensation System (MACS/D) for Electron Microscopy
用於電子顯微鏡的磁主動補償系統 (MACS/D)
讓受電磁干擾影響設備回復正常功能,不再模糊不清,無法判斷
- 高效能 DSP 架構應用先進的訊號處理演算法,實現卓越的環境 EMI 屏蔽,專門用於帶電束儀表和製造作業
- 適用於高解析度電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、掃描穿隧電子顯微鏡和核磁共振儀器的卓越磁場屏蔽
- 三軸高功率補償可修正極端環境中的電磁 EMI
- 寬頻率範圍消除環境交直流磁干擾
- 有效防護地鐵、電梯、移動車輛、磁導航系統和配電設備造成的磁場波動
- 允許的補償線圈幾何形狀範圍廣泛
- 透過 ACR 選項以電子方式實現探頭位置偏移
- 遠端存取所有監控、設定、診斷和參數調整功能
- HTML 追蹤頁面允許捲動顯示 35 個參數的任何子集或全部
- 資料記錄畫面在需要時提供系統狀態和狀態歷史記錄的詳細輸出
- 受 VPN 保護的安全遠端存取;關鍵調整受密碼保護
MACS/D 系統的負回授閉環配置 透過標準補償線圈組在從 0.2 nT (20 m G) 到至少 45 m T (450 mG) 的動態範圍內提供高衰減。MACS/D 標準補償線圈由一組直徑為 0.5 英吋(13 毫米)的電纜組成,這些電纜定義了三個軸中每個軸的操作體積 (OV) 的端面。此外,高效能、高功率多通道線圈驅動放大器在補償高干擾場方面提供了非凡的系統能力和可靠性。與目前可用的競爭性主動磁場補償系統相比,MACS/D 具有大動態範圍和增強的長期系統可靠性(適用於遭受高強度干擾場的場所)。
選擇我們產品可以解決儀器設備本身的雜訊干擾問題,另外我們也有針對環境帶來的干擾問題提供解決方案
2024-05-17
永遠超越客戶的期待
ALWAYS GOES BEYOND CUSTOMERS' EXPECTATIONS