ETS-Lindgren 的 SMART（統計模式平均混響測試場地）系列混響室，採用最新混響技術與多年測試空間設計建造經驗，打造出理想的電磁環境（EME），適用於下列測試：

• 抗擾度測試
• 輻射發射測試
• 屏蔽效能（SE）測試

相比其他測試方法，SMART 混響室擁有以下優勢：

• 較低建置成本
• 更高的場強對功率比
• 支援大型測試系統（DUT）

運作原理與測試優勢

SMART 混響室利用內部牆面反射射入 RF 能量，透過**單個或多個旋轉反射葉片（Tuner）動態改變腔體邊界條件，產生具統計各向同性（Isotropy）與均勻性（Homogeneity）**的場型。

• ETS-Lindgren 專利轉葉設計，可快速穩定場型，提高測試效率
• 支援慢速轉動模式（Stirred Mode），符合新測試標準，提高資料取樣效率
• 同一腔體內任意位置測量結果一致
• 測試設備（EUT）重新配置對結果影響極小

高測試重現性與一致性是 SMART 混響室的核心價值。

節能與經濟效益

• 能以較低輸入功率產生強電磁場
• 可使用較低成本的放大器，不影響場強表現

適用場景

SMART 混響室適合模擬複雜電磁環境（EMC）場景，如：

• 電腦機房
• 醫療設備室
• 飛機航電艙
• 車輛引擎艙

模擬全波極化方向與所有入射角，是多重場景測試的理想選擇。

客製化設計服務

ETS-Lindgren 可根據您的測試需求設計理想腔體：

• 提供最適合的腔體尺寸以容納最大 DUT
• 依據頻率與場強需求設計 Q 值與模式密度
• 建議最佳天線與放大器配置，達成測試目標