天線暗室(Antenna Chamber)
FAR-FIELD MEASUREMENT
遠場暗室 Far-Field Chamber
最傳統直觀的天線量測架構, 發射與接收天線之間距離必須大於遠場距離公式:
R ≧ 2D² / λ
適用於尺寸較小、頻率較高之 RF、 微波與毫米波天線量測應用。
COMPACT ANTENNA TEST RANGE
縮距場暗室 Compact Antenna Test Range(CATR)
透過高精度拋物面反射器(Reflector), 在極短距離內將球面波轉換為平面波(Plane Wave)。
能在有限空間中量測大型天線, 大幅降低建置空間與整體成本。
NEAR-FIELD SCANNING SYSTEM
近場暗室 Near-Field Chamber
利用 Probe 掃描振幅與相位資訊, 並透過 FFT 等演算法推算遠場特性。
特別適合大型主動相控陣列雷達、 衛星通訊與高增益天線量測。
遠場量測
一般來說,對於低頻天線以及需要簡單模式切割測量的情況,遠場範圍是更好的選擇。對於某些應用,遠場天線測量是確定被測天線 (AUT) 振幅和/或相位特性的首選技術。我們的遠場測試解決方案涵蓋室內和室外兩種配置。
遠場測試可以在室外或室內配置完成。最常見的遠場測試場是室外設施。在室外遠場測試場中,測試天線安裝在位於儀器控制室外的塔、屋頂或平台上的測試定位器上。
接收機前端(本振)通常位於測試定位器的底部,混頻器直接連接到測試天線連接埠。這種配置僅需一條穿過定位器的射頻路徑,大大簡化了系統設計
所有 NSI-MI Technologies 測試和測量系統的核心是資料擷取和測量系統以及用於擷取、平面、圓柱或球形分析的可選軟體包。
永遠超越客戶的期待
ALWAYS GOES BEYOND CUSTOMERS' EXPECTATIONS