天線暗室(Antenna Chamber)

FAR-FIELD MEASUREMENT

遠場暗室 Far-Field Chamber

最傳統直觀的天線量測架構, 發射與接收天線之間距離必須大於遠場距離公式:

R ≧ 2D² / λ

適用於尺寸較小、頻率較高之 RF、 微波與毫米波天線量測應用。

COMPACT ANTENNA TEST RANGE

縮距場暗室 Compact Antenna Test Range(CATR)

透過高精度拋物面反射器(Reflector), 在極短距離內將球面波轉換為平面波(Plane Wave)。

能在有限空間中量測大型天線, 大幅降低建置空間與整體成本。

NEAR-FIELD SCANNING SYSTEM

近場暗室 Near-Field Chamber

利用 Probe 掃描振幅與相位資訊, 並透過 FFT 等演算法推算遠場特性。

特別適合大型主動相控陣列雷達、 衛星通訊與高增益天線量測。

近場量測

近場量測

伯堅所提供的近場量測設備,均採用來自全球近場技術先驅的NSI-MI無線射頻測量解決方案。近場量測是為了診斷無線通訊設備的天線穩定度,從而提高產品的精確度與吞吐量。常用的近場測量技術包括平面(PNF)、圓柱(CNF)與球型(SNF)測量系統。每種近場掃描解決方案都會有不同的測量方式與特點,若你對近場量測有任何疑問,也不妨直接聯絡我們!

遠場量測

遠場量測

一般來說,對於低頻天線以及需要簡單模式切割測量的情況,遠場範圍是更好的選擇。對於某些應用,遠場天線測量是確定被測天線 (AUT) 振幅和/或相位特性的首選技術。我們的遠場測試解決方案涵蓋室內和室外兩種配置。

遠場測試可以在室外或室內配置完成。最常見的遠場測試場是室外設施。在室外遠場測試場中,測試天線安裝在位於儀器控制室外的塔、屋頂或平台上的測試定位器上。

接收機前端(本振)通常位於測試定位器的底部,混頻器直接連接到測試天線連接埠。這種配置僅需一條穿過定位器的射頻路徑,大大簡化了系統設計

所有 NSI-MI Technologies 測試和測量系統的核心是資料擷取和測量系統以及用於擷取、平面、圓柱或球形分析的可選軟體包。

永遠超越客戶的期待
ALWAYS GOES BEYOND CUSTOMERS' EXPECTATIONS

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