MI-3000
此系列產品組合可實現高效的測距操作、資料管理、資料呈現和分析。 NSI-MI 打造了一套開放式架構解決方案,旨在與先進的微波測量系統、上一代 NSI-MI 技術儀器或眾多第三方儀器和位置控制系統配合使用。
MI-3000
MI-3000 創建並支援高效的測試和測量環境,簡化用於天線、天線罩和雷達橫截面測量的全自動工作站和軟體,從設定到分析和報告,提供全自動天線和微波測量。
此軟體套件包含客製化設計的使用者介面,可建立並支援高效的測試測量流程,滿足您的獨特需求。無論您是收集研發資料、分析測試測量資料、快速取得測試模式或執行重複性任務,MI-3000 都能提供合適的工具來滿足您的需求。
平面近場分析
我們的平面近場分析軟體處理使用 Arena 資料擷取軟體擷取的原始近場資料。處理過程包括:
- 校正與熱漂移、平面性和系統損失相關的系統誤差;
- 使用 NIST 開發的演算法將校正後的近場資料轉換到遠場;
- 對遠場資料執行最終輸出處理,以提供各種座標系和極化約定的資料。
特徵
平面近場分析軟體包含輔助執行高精度平面近場測量的功能,例如:校正測量中使用的探頭的模式、輸入特性和增益。可使用 Arena 軟體在遠場範圍內擷取探頭資料;可從 ASCII 或 Microsoft Excel® 匯入單埠和雙埠探頭資料;或者,可以模擬開口矩形波導探頭(例如 ANT-WGP 波導探頭)的探頭資料。
此軟體包還包含天線孔徑診斷支援。使用者可選擇將遠場資料反向變換至被測天線的孔徑平面或天線前方的任意平面。對於天線單元方向圖已知的天線陣列,使用者可以選擇從資料中移除單元方向圖,以獲得對陣列單元激勵的最佳估計。
圓柱形近場分析
NSI-MI Technologies 的圓柱近場分析軟體可無縫處理 Arena 資料擷取軟體擷取的原始近場資料。處理過程包括:
- 校正與熱漂移和系統損失相關的系統誤差;
- 使用 NIST 開發的演算法將校正後的近場資料轉換到遠場;
- 遠場資料可以進行最終輸出處理,以提供各種座標系和極化約定的數據
特徵
此軟體的功能有助於執行高精度圓柱形近場測量,包括:校正測量中使用的探頭的模式、輸入特性和增益。可使用 Arena 軟體在遠場範圍內擷取探頭資料;可從 ASCII 或 Microsoft Excel® 匯入單埠和雙埠探頭資料;或可模擬開口矩形波導探頭(例如 ANT-WGP 波導探頭)的探頭資料。
圓柱近場分析軟體還包含天線孔徑診斷支援。使用者可選擇將遠場資料反向變換至被測天線的孔徑平面或天線前方的任意平面。對於天線單元方向圖已知的天線陣列,使用者可以選擇從資料中移除單元方向圖,以獲得對陣列單元激勵的最佳估計。
球面近場分析
NSI-MI Technologies 的球形近場分析軟體配件可無縫處理 Arena 資料擷取軟體擷取的原始近場資料。處理過程包括:
- 校正與熱漂移和系統損失相關的系統誤差;
- 使用業界標準 TICRA 軟體將校正後的近場資料轉換至遠場;
- 計算在θ和φ座標系中等距分佈的點的場。該場可以計算遠場,也可以計算測試天線周圍任何其他需要計算場的半徑。
特徵
球面近場分析軟體允許以各種球面座標系和偏振基準來呈現遠場結果。此轉換軟體支援對測量中使用的探頭的模式、輸入特性和增益進行校正。可使用 Arena 軟體在遠場範圍內擷取探頭資料;可從 ASCII 或 Microsoft Excel® 匯入單埠和雙埠探頭資料;或者,可以針對開口矩形波導探頭(例如 ANT-WGP 波導探頭)模擬探頭資料。
球面近場分析軟體採用 IsoFilter™ 程式和演算法。此技術利用球面近場處理功能,在空間上過濾某些輻射源和反射源,從而更精確地表徵系統內的裝置元件,或抑制測試區域中的雜波。
該軟體還包含天線孔徑診斷支援。使用者可選擇將遠場資料反向變換至被測天線的孔徑平面或天線周圍的任意平面。
天線罩分析
NSI-MI Technologies 的雷達罩分析軟體包擴展了基礎採集和分析軟體的功能,使其能夠執行雷達罩採集和分析。相關參數包括:增益、零點填充、波束寬度、交叉波束寬度、第一旁瓣不平衡、差分方向圖主瓣不平衡、第一副瓣和第二副瓣電平變化以及反射瓣辨識。 DO-213 規格和參數可用作傳輸效率和方向圖失真選項的閾值。此外,還支援自訂閾值。雷達罩分析解決方案可能受到出口限制。
特徵
- 傳輸效率
- 光束偏轉
- 視軸誤差
- 光束偏轉率
- 機罩反射率
- 圖案扭曲
- 單脈衝誤差曲線校正傳輸效率與視軸偏移分析
RCS分析
NSI-MI 的 RCS 分析軟體能夠處理雷達截面採集資料。軟體提供補償背景減法和目標校準的功能。校正後的資料可處理產生各種輸出,例如 RCS 與頻率、方位的關係;RCS 與近程、方位的關係;橫向距離的關係;聚焦/非聚焦 ISAR 成像;時間多普勒和距離遊動等。此外,該軟體還提供零多普勒減法和軟體門控功能。 RCS 分析還包含一個漂移校正實用程序,用於補償長 RCS 採集中的漂移。透過 RCS 分析軟體門控功能,可以使用 CW 系統擷取 RCS 資料。但是,要使用軟體門控功能,所有資料必須以多頻模式擷取。有關可用的門控系統,請諮詢 NSI-MI Technologies。
RCS分析解決方案受到美國出口限制。
永遠超越客戶的期待
ALWAYS GOES BEYOND CUSTOMERS' EXPECTATIONS