MI-3000

此系列產品組合可實現高效的測距操作、資料管理、資料呈現和分析。 NSI-MI 打造了一套開放式架構解決方案,旨在與先進的微波測量系統、上一代 NSI-MI 技術儀器或眾多第三方儀器和位置控制系統配合使用。

測試區分析

測試區分析

NSI-MI Technologies 的測試區分析是一款用於分析天線範圍場探測資料的整合軟體套件。它確保處理的一致性,並以統一有序的方式呈現資料結果。在天線範圍的認證和分析中,一個重要的資料收集過程是探測被測天線 (AUT) 所在的區域。 AUT 可能所在的整個區域稱為「測試區」。對於緊湊型範圍,測試區也稱為“靜區”。測試區場強是影響 AUT 天線測量資料最終精度的主要因素。

探測測試區的常規方法是在測試區安裝一個帶有移動天線探頭的線性裝置,並以掃描方式在多個頻率、方向和位置收集資料。大量的掃描可以繪製測試區場的品質圖。測試區分析軟體能夠根據評估測試區品質的標準指標分析這些掃描結果,並產生簡潔的表格分析和註釋的掃描資料圖。

測試區指標

NSI-MI 的測試區分析是一款專用於與 MI-3000 Arena™ 資料擷取和分析軟體無縫協作的配件軟體包。它可對以下掃描結果進行分析:

  • 幅度錐度、漣波和對稱性
  • 總振幅變化
  • 相位錐度、漣波、斜率和傾斜
  • 總相位變化

永遠超越客戶的期待
ALWAYS GOES BEYOND CUSTOMERS' EXPECTATIONS

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