大型垂直 XY 定位器
型號：MEC-XYV
我們的大型垂直 XY 定位器非常適合測量 L 波段至 Ku 波段的大孔徑中高增益天線 (>15 dBi)，非常適合測試大型陣列或反射面天線。高容量探頭托架可容納低至 WR1500 的探頭，包括可選的滾動台和 Z 軸台。
特徵
- 高平面精度和位置重複性
- 掃描區域：9.1 公尺 x 9.1 公尺（30 英尺 x 3 英尺）至 32.9 公尺 x 15.8 公尺（108 英尺 x 52 英尺）
- 精密齒條齒輪傳動
- 倒“T”形框架設計，精度高
- 提供基於雷射的增強精度選項
| 掃描區域 | 9.1 x 9.1 公尺 – 32.9 公尺 x 15.8 公尺（30 英尺 x 30 英尺 – 108 英尺 x 52 英尺） |
|---|---|
| 平面性 | 0.1 – 0.5 毫米 RMS（0.004 – 0.020 吋 RMS） |
| *校正平面度 | 0.05 – 0.2 毫米 RMS（0.002 – 0.008 吋 RMS） |
| 解決 | 0.05 毫米（0.002 吋） |
| 位置重複性 | 0.05 毫米 RMS（0.002 吋 RMS） |
| 掃描速度 | X：0.2 公尺/秒（8 英吋/秒） Y：0.25 公尺/秒（10 英吋/秒） |
| 載客量 | 79.5公斤（175磅） |
*註：需要選購的結構校正軟體和電動平移台。
- MEC-XYV 大型垂直XY定位器
- 說明書
- 介面控制繪圖（ICD）
建議的位置控制器：
- 4軸智慧測量控制器（IMC）
- 4軸天線範圍控制器（ARC）
- 8軸運動控制器（PMC）
永遠超越客戶的期待
ALWAYS GOES BEYOND CUSTOMERS' EXPECTATIONS