MAF-R

廠  牌 : TAZMO

邊緣保持方式

採用不接觸背面的方式,將晶圓的顆粒物汙染控制在最小 支持直徑200MM晶圓的機械鉗方式校正機。

  • 只接觸晶圓的邊緣,實現了清潔定位的概念。
  • 自動識別晶圓的V型切口及定向平面,省略了上級控制器的設定。
  • 也可以支持化合物半導體及玻璃晶圓(請另行洽詢)
  • 内置型控制器的緊密設計。
適用對象φ200mm
SEMI/JEIDA規格晶片
處理時間9秒以内(不換手時)
23秒以内(換手時)
處理精度θ:±0.2°以内(3σ)
處理範圍±1mm以内
(晶片偏心量)
晶圓保持方式夾持邊緣
晶片保持確認Photo micro sensor
通信規格RS-232C(串行通信)
適用電源電源:DC24V±10% 3A 1系統
重量本體:约8kg

永遠超越客戶的期待
ALWAYS GOES BEYOND CUSTOMERS' EXPECTATIONS

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