- 符合ICNIRP2010、IEC 62233和JIS TS C 0044
EPS-02可以預先測量,確定發生位置並檢查對電子設備開發必不可少的EMC對策中的對策效果。透過顏色辦別從攝影機圖像中檢測電磁場探棒的位置,對測得的訊號進行即時頻率分析,並將電磁場強度水平疊加在要測量設備的實際圖形上,並以熱像圖形式顯示。
- 在測量干擾量時可用作對策工具
- 可輕鬆檢查噪聲產生因素和分析
- 可輕鬆檢查前後下對策的比較
- 透過更換探棒,可以從整個產品到單個零件進行測量
- 可以使用因子編輯器來校正天線特性、電纜損耗、前置放大器等
- 緊湊且方便攜帶
- 可以使用客戶自己的頻譜儀或電磁場探棒來構建系統(需討論確認支援型號)
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永遠超越客戶的期待
ALWAYS GOES BEYOND CUSTOMERS' EXPECTATIONS